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텍트로닉스, 광학 변조 분석기 소프트웨어 강화

글쓴이 : Riushop 날짜 : 2016-10-27 (목) 15:51 조회 : 1134

멀티 채널 광학 전송 시스템 연구 지원

텍트로닉스.jpg

측정 솔루션 분야의 세계적인 선도기업 텍트로닉스가 최근 광학 변조 분석기(Optical Modulation Analyzer; OMA) 소프트웨어에 대한 일련의 개선 사항을 발표했다.


최신 발표는 광학 연구 엔지니어들에게 단일 측정 시스템을 사용하여 멀티 채널 가 간섭 변조 체계를 정확히 평가할 수 있는 기능을 제공한다. 이제 엔지니어는 여러 광학 변조분석기를 더욱 쉽게 캘리브레이션 하고 제어할 수 있어, 여러 채널에서 다양한 파장, 파이버 코어와 같은 동시 데이터를 획득 및 분석할 수 있다.


텍트로닉스 고성능 오실로스코프 담당 총책임자인 브라이언 라이히(Brian Reich)는 “광학변조 분석기(OMA)의 강화된 소프트웨어는 QAM 또는 DP-QPSK와 같은 고급 가간섭 광학 통신 및 네트워킹 기술을 개발하는 연구원을 위한 멀티 채널 테스트 환경을 개선할 수 있다”며 “텍트로닉스는 현재 여러 OMA 시스템 설정 비용을 감축시키고, 여러 OMA 하드웨어 시스템에서 신호 수신 시점부터 캘리브레이션을 통해 시스템의 데이터를 동기화하기까지 소요되는 시간을 단축하고 있다”고 말했다.


이번에 새롭게 시각화시킨 OMA 설정 툴은 오실로스코프 재구성과 가 간섭 리시버 프런트 엔드의 재구성을 용이하게 하여 PAM4 연구 또는 DP-QPSK 테스트의 채널 수 증가와 같은 다양한 애플리케이션에 동일한 하드웨어를 사용할 수 있게 해준다.

 

OMA에서 각 채널에 대한 데이터를 다운 컨버팅하고 디지털화해야 하는 공간 (또는 모달Modal) 분할 멀티플렉싱의 사용과 함께 멀티 채널 가 간섭 연구의 필요성도 증가하고 있다. 또한 파장 분할이 OMA 대역폭을 넘어설 경우 다중 반 송파 통신 애플리케이션에는 파장 채널당 1개의 OMA가 필요하다.


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